GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
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基本信息
| 标准名称： | 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 |
| 英文名称： | The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 光电子器件 >> 红外器件 |
| ICS分类： | 电子学 >> 光电子学、激光设备 |
| 发布部门： | 国家质量技术监督局 |
| 发布日期： | 1998-07-03 |
| 实施日期： | 1999-05-01 |
| 首发日期： | 1998-07-30 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-15 |
| 页数： | 18页 |
| 书号： | 155066.1-15431 |
适用范围
本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照的光敏阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。
前言
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 光电子器件 红外器件 电子学 光电子学 激光设备
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